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SpectrumTEQ-EL電致發光量子效率測量系統

SpectrumTEQ-EL電致發光量子效率測量系統

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產品介紹

SpectrumTEQ-EL系列電致發光量子效率測量系統,可以針對發光器件的光電特性進行有效測量,系統搭配的QEpro光譜儀為業內公認旗艦系列,具有信噪比、低雜散光等特性,可確保測量結果得準確性;同時,系統配有強大的測試軟件,對話框式的軟件操作界面讓測量過程變得更為簡單。

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測量參數

  • 量子效率
  • 亮度
  • 量子效率隨電流密度的曲線
  • 色坐標
  • 輻射通量,光通量
  • 主波長

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應用領域

  • 無機電致發光
  • 有機電致發光
  • 分子薄膜EL器件

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產品優勢

  • 體積小巧:便于靈活使用及運輸。
  • 原位測量:可放至手套箱內,實現原位測量
  • 流程化操作:設備無需頻繁校準。

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產品參數

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系統配置
配置方案 方案1?方案2
光譜儀型號QEPro / QE65Pro(可選)
光譜范圍(nm)350-1100
信噪比1000:01:00
分辨率2.5 nm (FWHM)
動態范圍85000:1(QEPro單次采集);25000:1(QE65Pro單次采集)
AD位數18-bit(QEPro);16-bit(QE65Pro)
積分球尺寸3.3”1.5”
材質Spectralon
源表Keithley2400
光纖芯徑1000um(可更換其他芯徑)
校準燈角度2 Pi?型號HL-3-INT-CAL
亮度50 流明功率5W(電功率)
無線遙控 通道數4無遙控
軟件SpectrumTEQ-EL專用軟件

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