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顯微拉曼系統

  • MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統,集成熒光、共焦拉曼測量功能*

  • MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統,具備透反射測量功能。

  • MicroTEQ-S1顯微光譜測量系統,集成熒光、拉曼和反射光譜測量功能。通過把光譜模塊集成到顯微鏡上,實現顯微熒光、拉曼和其他光譜信息的測量。系統由光譜儀、激光器、光源、顯微鏡等部分構成,自由靈活,幫助用戶快速對樣品微觀結構,微觀光譜信息的測試和分析;此外系統可以加裝二維電控掃描臺,通過軟件控制,實現光譜二維掃面測量功能。

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